Analizador de Impedancia Hioki IM7587

El Analizador de Impedancia Hioki IM7587 ofrece mediciones de alta velocidad y precisión en un rango de frecuencia de 1 MHz a 3 GHz, con un tiempo máximo de medición de 0,5 ms. Su estabilidad y exactitud lo hacen ideal para investigación, desarrollo y producción de alto volumen en componentes electrónicos como perlas de ferrita e inductores.

• Incluye una función de comparación que permite verificar si los valores medidos están dentro de los rangos definidos por el usuario, facilitando juicios de PASA/FALLA.
• Posee función de verificación de contacto entre la muestra y los terminales de medición para detectar o confirmar un buen contacto.

Características

• Frecuencia de la fuente de prueba: 1 MHz a 3 GHz
• Velocidad de prueba más rápida: 0,5 ms (tiempo de medición analógica)
• Variabilidad del valor medido: 0,07% (midiendo una bobina de 1 nH a 3 GHz)
• Precisión básica: ±0.65% rdg
• Método de medición: RF I-V
• Cuerpo compacto y cabezal de prueba del tamaño de la palma de la mano
• Verificación exhaustiva de contactos (DCR, rechazo Hi-Z o juicio de forma de onda)
• Soporta barridos de frecuencia, barridos de nivel y mediciones en modo analizador

Especificaciones del Analizador de Impedancia Hioki IM7587

Modos de medición	Modo LCR, modo analizador (barridos de frecuencia y nivel), modo de medición continua
Parámetros de medición	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
Rango medible	100 mΩ a 5 kΩ
Rango de visualización	Z: 0,00 m a 9,99999 GΩ / Rs, Rp, X: ±(0,000 m a 9,99999 GΩ) / Ls, Lp: ±(0,00000 n a 9,99999 GH) / Q: ±(0,00 a 9999,99) / θ: ±(0,000° a 180,000°) / Cs, Cp: ±(0,00000 p a 9,99999 GF) / D: ±(0,00000 a 9,99999) / Y: (0,000 n a 9,99999 GS) / G, B: ±(0,000 n a 9,99999 GS) / Δ%: ±(0,000 % a 999,999 %)
Precisión básica	Z: ±0.65% rdg, θ: ±0.38°
Frecuencia de medición	1 MHz a 3 GHz (resolución de ajuste de 100 kHz)
Nivel de señal de medición	Potencia: -40,0 dBm a +1,0 dBm / Tensión: 4 mV a 502 mVrms / Corriente: 0,09 mA a 10,04 mArms
Impedancia de salida	50 Ω (a 10 MHz)
Monitor	Pantalla táctil TFT a color de 8,4 pulgadas
Velocidad de medición	Rápido: 0,5 ms (valor típico)
Funciones	Verificación de contacto, comparador, medición BIN, almacenamiento de paneles, memoria interna, análisis de circuitos equivalentes, compensación de correlación
Interfaces	E/S EXT (manejador), USB, memoria USB, LAN, RS-232C (opcional), GP-IB (opcional)
Fuente de alimentación	100 a 240 V CA, 50/60 Hz, 70 VA máx.
Dimensiones y masa	Unidad principal: 215×200×348 mm, 8 kg / Cabezal de prueba: 90×64×24 mm, 300 g
Accesorios incluidos	Cabezal de prueba, cable de conexión, manual de instrucciones, disco de aplicación LCR, cable de alimentación

Documentos: